与"测试测量"相关的所有研讨会

  • OMRON
    回放 欧姆龙开关部件解决方案助力半导体自动化设备测试

    在半导体测试设备中,开关零件的性能是决定测试设备的测试效率重要因素之一。基于半导体自动化设备测试行业的发展需求, 欧姆龙专注于解决各种信号开关部件使用中的应用客户课题,现已拥有多种开关方案。

    我们会在本次研讨会介绍欧姆龙开关部件的适用场景,如何通过选择合适的开关部件来解决设备的测试痛点,达到高性能。同时,您将了解到:
    1.针对测试行业电子开关应用要求的低漏电流课题
    2.欧姆龙的全新模组方案

  • Teledyne
    回放 PCIE 3.0发射机接收机及动态均衡测试全套解决方案介绍

    PCIE 3.0相对于它的前一代PCIE 2.0的最主要的一个区别是速率由5GT/s提升到了8GT/s,编码方式由8B/10B 变成了128B/130B,接收机测试规定为PCIE 3.0规范要求的必测项目。特别的是PCIE 3.0增加了动态均衡的概念。这些变化使得PCIE 3.0的测试变得更具挑战:发射机测试常规的项目如眼图抖动等测试外,还需要进行11级TxEQ Preset测试;新增加的接收机测试时如何让被测件顺利的进入Loopback对测试设备也是一个挑战;更有挑战的一个测试项目是PCIE 3.0特有的动态均衡测试,目前只有Teledyne LeCroy的测试方案能够实现这项测试。本次研讨会就将为您详细阐述Tlededyne LeCroy针对PCIE 3.0的全面的自动化测试解决方案。

  • Teledyne
    回放 力科多通道高速串行信号分析解决方案SDAIII

    移动通信和云计算的发展驱动着更高数据吞吐量的需求,PCIE Gen3 、40/100 G base-R多通道串行架构的出现都是为了满足这种需求,但是随着数据速率的提高和更多通道的同时工作,必须面对由此带来的更严重的抖动和串扰问题,必须对多通道数据的眼图、抖动、串扰做深入细致的分析。 当前这一领域的测试挑战有如下三个方面: 1、 测试仪器能否提供足够高的带宽以满足多通道高速信号接口的测试需求; 2、 测试仪器的高带宽通道数量是否足够; 3、 是否有强大的串行数据分析软件协助对高速信号的分析和调试; 针对这些挑战,全球串行信号分析解决方案领导厂商Teledyne LeCroy公司,在硬件上提供带宽高达65GHz的实时数字示波器,而且,力科能够提供全世界最高密度的高带宽通道,65GHz的带宽通道数能够达到40个,36GHz的带宽通道数能够达到80个。同时还推出了强大的多通道串行数据眼图、抖动、串扰及噪声分析软件SDAIII,能够实现4个通道加1个参考通道的眼图抖动的同时测量,同时还可以针对噪声进行分解分析。本次研讨会就将为您详细介绍力科的SDAIII专业串行数据分析软件的特点及怎样帮助你分析和解决高速设计问题。

  • Teledyne
    回放 力科新一代12bit高精度示波器HDO及其在弱小信号测量中的应用

    通过本次研讨会,您不仅可以了解到力科12bit ADC示波器HDO系列为何能够达到更高的精度的原理以及其能够达到多高的精度,同时您也将了解到12位ADC的示波器在各种领域的应用。

  • keithley
    回放 高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱

    虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域,但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。

  • 美国国家仪器公司(NI)
    回放 使用最新技术和总线进行高速、高吞吐量自动化测试

    自动化测试的速度是自动化测试系统的关键指标。对于研发阶段,参数的验证速度直接决定了产品投放市场的时间,对于生产阶段,自动化测试速度则决定了产量。以PXI为核心构建的自动化测试系统借助于最新技术和总线可以实现极高的数据吞吐量,大大减少了测试时间。在本场讲座中,我们将结合自动化测试领域的最新案例为您揭示如何使用最新技术进行高速、高吞吐量的自动化测试。

  • keithley
    回放 超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱

    本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果

  • keithley
    回放 非易失存储器-特性分析与测量技术

    寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器(NVM)的替代技术,例如正在进行的相变存储器(PCM/PRAM)、铁电存储器(FeRAM)、磁阻存储器(MRAM)和阻性存储器(ReRAM)。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多,但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析,例如瞬态开关性能、耐力,并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLASH、PRAM、ReRAM和FeRAM等各种NVM技术的常用特性分析和测量技术。本期研讨会还将介绍标准测量仪器的改进——用单机提供脉冲源和测量,即同步测量电流和电压同时向存储器件或材料施加多个脉冲波形。

  • keithley
    回放 什么是源测量单元(SMU)仪器,怎样为您的应用选择合适的源测量单元(SMU)仪器 ?

    源测量单元(SMU)可以提高生产效率,完成更全面的特性测试,并提高测试系统整体性能。然而,为了真正优化测试,在为应用选择合适的源测量单元(SMU)时,必须综合考虑“说明书中的性能指标”。此次在线研讨会将介绍源测量单元(SMU)的工作原理,说明选择源测量单元(SMU)仪器时需要考虑的关键因素及性能,以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利最新发布的面向高功率高电压测试的2657A型数字源表。2657A为吉时利2600A系列高速、精密源测量单元数字源表系列产品增加了高电压功能。此系列仪器能帮助吉时利客户分析范围更宽的功率半导体器件和材料。 此次在线研讨会中展示的材料对于从事半导体元器件、材料和相关技术进行特性分析和测试的工程师、研究人员、教育工作者以及学生具有重要价值,需要对器件或者材料的电流/电压 (I /V)特性进行验证和/或更好的了解其电流/电压 (I /V)特性。典型器件和技术包括硅、功率/能源应用像高亮度LED和太阳能电池中涉及的化合物半导体(如SiC、GaN)、电子元器件、纳米技术以及一些新兴技术。

  • Teledyne
    回放 100GbE+测试解决方案

    大约在10年前,人们谈论更多的是光网络的过度建设,光纤通信的带宽容量巨大但并没有相应足够的需求。今天随着网络传输中数据和视频(如Facebook,YouTube,优酷等)的大量普及性应用驱动着光网络带宽容量的投资建设和相应的新技术研发。其中,100GbE的兴起已从研发实验室进入了商用,而400GbE甚至更频谱效率和更高速率的前沿研发正成为热点。100GbE+的标准有很多种,对应的在测试方测量面有不同的需求和挑战。这种测量上的细分市场包括100GBASE-CR10,100BBASE-xx4,100GBASE-SR10,100GBASE-LR4,100GBASE-ER4,100G DP-QPSK,等等。 这些标准分别表示什么含义? 对应的测量上的需求和挑战是什么? 示波器可以实现哪些方面的测量? 该次研讨会我们将讨论目前100GbE及以上的超高速网络通信市场的技术标准的信号特点,测量上的需求和挑战及力科公司所能提供的测试解决方案。

  • Teledyne
    回放 力科12位ADC高精度实时示波器WaveRunner HRO 6Zi的原理及应用

    三大高性能数字示波器厂商之一的力科公司在相继推出45GHZ的最高带宽的WaveMaster 8Zi以及拥有多达20个高带宽通道的LabMaster 9Zi等高性能产品之后,近期又超越了当前业界所有示波器的测试精度极限,推出了目前业界唯一的具有12位ADC的高精度实时数字示波器WaveRunner HRO 6Zi,带宽400MHZ-600MHZ,采样率2GS/S,相比于传统的8位ADC的数字示波器具有最好的信号完整性、更高的分辨率、更低的电气噪声以及最大的测量精度。因此在一系列的应用中带来了独特的价值,如小电压信号的测量、射频调制信号的测量、电源功率的测量、锁相环的测量、医疗传感器信号的测量、相位噪声测量等等。 通过本次研讨会,您不仅可以了解到力科12 ADC示波器WaveRunner HRO 6Zi为何能够达到更高的精度的原理以及其能够达到多高的精度,同时您也将了解到12位ADC的示波器在各种领域的应用。 欢迎您的参与! 美国力科公司(LeCroy)是全球唯一一家专业专注于数字示波器的厂商。力科公司几十年来保持着惊人的创新能力,持续为工程师们创造“最能解决问题”的示波器。当今数字示波器中的一些耳熟能详的“术语”都是力科最先发明或引入到示波器领域的。 目前,力科公司已设立北京、上海、深圳、成都、西安五个办事处全面负责中国地区的业务。其示波器和协议分析仪产品为电子测量和当今广泛应用的串行数据分析提供了全面的解决方案,在中国的市场份额与业界影响力与日俱增。放眼未来,力科将通过不断创新持续地帮助客户取得成功。欲获得更多信息,请访问:www.lecroy.com.cn。

  • Teledyne
    回放 USB3.0端到端完整测试解决方案

    在2008年11月,HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。USB3.0的速度由USB2.0的480Mbps提升到了5Gbps,以满足当前与未来更大容量的高清视频的快速数据传输的需求。美国力科作为串行数据分析仪器的领导者,也以最快的速度于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试的完整解决方案,能提供全面的符合规范要求的一致性测试解决方案,包括发送端测试、接收机测试和线缆测试,力科也是唯一一家完整提供端到端测试解决方案的厂商。力科的高速数据分析仪SDA813Zi示波器可用于测试发送端信号的眼图、抖动等相关参数,提供了业界最快的眼图测试速度,对于USB3.0要求的测量1百万个比特叠加的眼图,力科SDA 813Zi-A示波器只需2秒即可完成,速度是同类示波器的10-100倍;在USB3.0测试中,接收机测试是必测项目,力科在2009年初发布了具备协议通信功能的误码率测试仪PeRT3 Eagle,并于2010年推出了新一代的PeRT3 Phenix,速率高8.5Gbps,PeRT3产品跨越了传统BERT与待测试芯片协议通信的障碍,可以方便快捷的测试USB3.0的误码率和抖动容限,同时支持内部误码率测试和外部误码率测试,是目前最全面和易用的USB3.0接收机测试方案;同时力科还于2010年10月份推出了具有极优秀、高性价比的S参数网络测试仪,SPAQR,可实现一键式S参数、阻抗等快速测量,SPARQ与力科的示波器SDA813Zi以及PeRT3的组合实现了快捷而全面的USB3.0测试解决方案。

  • 21IC公益研讨会
    回放 浅析数据采集设计方案要素

    主要讲述了做数据采集硬件设计过程中需要考虑的问题,并针对各环节做了相应分析、阐述。  数据采集系统要素构成  被测对象分析  传感单元  信号调理  放大  滤波  数据采集系统架构

  • tektronix
    回放 最新的嵌入式系统数字逻辑测试解决方案--TLA6200系列逻辑协议分析仪

    我们所设计的产品最终是需要完成一定功能的,而在功能级的验证和信号模拟层的完整性测试中间,存在着巨大的信息鸿沟。设计人员很难将一个功能上的缺陷直接对应于哪些信号中存在的哪些损伤,从而不得不花费大量时间、人力成本去“DEBUG”。Tektronix逻辑协议分析仪TLA6200的独特性能恰恰能够将电路功能级行为和信号模拟特性联系在一起,大大节省产品调试所需的周期。本次网上研讨会将为您揭开Tektronix TLA6200逻辑协议分析仪神秘的面纱,具体展示其在嵌入式系统调试、测试中的解决方案。另外,针对广泛应用的FPGA技术TLA6200也提供了相应的动态、便捷的测试方案。

  • Teledyne
    回放 定位异常信号的组合方法

    工程师在经常遇到调试情形是:工程师知道电路中有些问题,于是他会假定问题的可能来源(比如怀疑时钟信号有毛刺),然后他有一种本能的冲动去寻找证据来支持他的假定—示波器上能看到想象中的毛刺。如果他找到了“证据”来支持他的假定或者隐隐约约能找到问题的蛛丝马迹,他需要通过触发来隔离出该问题,使有问题的信号“停留”在触发点。一旦他来触发到有问题的信号,他就能追溯到电路中的其它位置来定位出该问题出现的原因,找出因果关系或进一步地通过其它各种手段来深入洞察该问题的特性。 如何寻找出“证据”来定位异常信号并进而找出因果关系解决问题呢? 力科示波器提供了一系列的方法手段来帮您做庖丁解牛般的信号解析。 本次研讨会将讨论定位异常信号的一系列方法,让您了解到每种方法的特长,使您能各用其所。通过这次研讨会,也许您将感到您之前头疼的问题都迎刃而解了!

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