2022年6月的所有研讨会

  • Fluke Calibration
    回放 新型8.5位数字多用表技术发展及应用

    高精度数字多用表在20世纪80年代中后期开始应用于电子测量领域,成为直流和低频交流电学计量的首选测量工具。具有多种功能精度高且易于实现系统自动化,可以轻松取代检零器等,但是其直流输入放大器并没有完全匹配检零器特性所需的特定设计。在某些关键方面,高精度数字多用表具有一定的缺陷,其中一个关键问题是仪器的输入偏置电流。输入偏置电流来源于高精度数字多用表中的前级放大器电路,其数值高达50pA。而最新型的福禄克高精度数字多用表8588A的偏置电流明显更小,最大仅为20pA。最初测试时,该偏置电流还可以被调整几乎接近于0pA 。这实际上消除了输入偏置电流导致的偏移电压问题。并且,随着时间的变化,偏置电流的变化很小,因此在很长一段时间内都将保持在该水平,从而确保了福禄克8588A 型高精度数字多用表是替代模拟检零器的合适产品。
    揭秘新型8.5位数字多用表采用的新技术;图文阐述性能指标;视频展示全新应用。

  • KEYSIGHT&Hisun-Test
    回放 第三代半导体功率器件测试完整解决方案

    随着新能源汽车、光伏、储能、5G通信等行业应用的兴起,对功率半导体器件提出了节能、紧凑、高效的新要求,以GaN和SiC为代表的第三代功率半导体因其优异的性能,被广泛应用于这些热点行业之中。是德科技针对功率半导体器件测试,新近推出了高性能动态参数测量方案,结合早已被业界广泛接受及应用的静态参数测试,其完善的测试方案能够完整覆盖从SiC到GaN,从分立器件到模组,全面助力客户解决高速开关、高压、高流、快沿等测试难点。本研讨会将针对这些难点的测试方法和技术逐一详细讲解。
    此次,是德科技邀请是德科技系统集成商和创联合科技,一并为用户带来功率器件晶圆级测试完整解决方案。以GaN和SiC为代表的第三代功率半导体其高耐压,低导通电阻,开关速度快的特点为晶圆级测量带来了更高挑战,本次和创团队会介绍功率器件晶圆级参数测量的相关内容,并针对晶圆级测试中常见的高压打火,器件震荡等问题提供可参考的解决方案。
    现场是德科技以及和创联合科技的测试专家都会在现场为用户解答技术问题。欢迎踊跃参与。

  • NXP
    回放 恩智浦微控制器技术机器学习方案总览

    恩智浦在微控制器上部署和应用机器学习已经有了4年的探索,积累了琳琅满目的资源,包括通用机器学习开发工具、基础实例、应用笔记、低代码机器学习教育和评估套件、应用软件包、垂直解决方案。同时,也在实际商业项目、嵌入式机器学习赛事上有丰富多彩的应用。在本次直播中,我们将为大家进行一次大的介绍和梳理,使大家能更快捷高效地选择和使用合适的开发资源,使自己基于恩智浦的嵌入式机器学习项目事半功倍。

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