在半导体测试设备中,开关零件的性能是决定测试设备的测试效率重要因素之一。基于半导体自动化设备测试行业的发展需求, 欧姆龙专注于解决各种信号开关部件使用中的应用客户课题,现已拥有多种开关方案。 我们会在本次研讨会介绍欧姆龙开关部件的适用场景,如何通过选择合适的开关部件来解决设备的测试痛点,达到高性能。同时,您将了解到: 1.针对测试行业电子开关应用要求的低漏电流课题 2.欧姆龙的全新模组方案