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Q在电子熔丝解决方案中，如何进行过流检测和报警？
AE-FUSE内部集成了负载电流采样装置进行过流检测同时通过LIN通讯进行故障报警。
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Q电子熔丝解决方案的体积和尺寸对于系统设计的影响是什么？
AMircochip的官网给客户提供了E-FUSE的硬件和软件设计全部的资料。客户可以根据需要把这种设计集成到自己的系统中，这样可以实现更高的集成度。从而对尺寸和空间的影响限制在最小。
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Q碳化硅电子熔丝的使用寿命会受到外部因素影响吗？
A会受到外部环境温度和内部散热条件的限制，包括系统所在的电磁环境，功率周期，相对湿度等的影响。和电子设备一样的概念。
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Q速度比传统的机械系统快100到500倍是什么单位
A是时间的单位。SiC MOSEFT的响应时间是在us级(故障大电流下），而传统的保险丝从故障电流开始到完全熔断需要100ms左右的时间。看具体应用和规格。但是无论如何MOSFET的工作时间要快得多，是传统熔丝和断路器的动作时间的1/500~1/100
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Q电子熔丝如何反馈到响应的控制台设备？
A联系Microchip销售代表获得技术支持
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QSiC MOSFET能接在弱电场合吗
A您是指低压场合么？低压场合用Si基的MOSFET比较合适，否则成本会比较高，不划算。
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Q代替机电继电器和熔丝的机械开关会引起感应电动势的增加吗
AE-FUSE的关断速度相对非常快，所以相同回路杂散电感的情况下其产生的电压尖峰会更高一些。但是因为此时会经过MOSFET的体二极管击穿进入到雪崩击穿状态，所以这个电压幅度最终取决于MOSFET的体二极管的特性。
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Q请问：碳化硅电子熔丝的熔断延时时间多少毫秒等级？
A要看过流是什么等级，如果是过载等级则在参数设定时间内断开，如果是故障大电流类似短路，此时如果是电流上升沿触发则会立刻关断电路，此时的响应时间有硬件延迟和MOSFET本身关断时间的影响在us级别
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Q怎样看懂短路允通电流的这个波形？及时切断电路的引起原因是什么？
A因为内置的MOSEFT，所以可以快速的切断电路。
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Q电子熔丝的失效模式是什么？
A联系Microchip销售代表获得技术支持
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Q在电子熔丝解决方案中，如何确保系统在断电时安全关闭？
A正常情况下，电子熔丝的关断受上位机的控制。当上位机判断处于断电过程时可以通过LIN通讯关掉E-FUSE。
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Q在电子熔丝解决方案中，如何处理高浪涌电流的情况？
AE-FUSE可以设置过载电流和短路电流的保护水平。如果浪涌电流的幅度包括持续时间在这两个电流保护的设定水平之内则不会误触发E-FSUE的动作。
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Q高温会不会影响碳化硅熔丝的效果？
A目前演示版的工作环境温度上限为+85C，在目前的散热条件下E-FUSE的电流规格为10A/20A/30A。这个额定电流规格是考虑了环境温度和MOSFET本身散热影响的。如果客户将散热方案集成到本身的系统设计中能够达到更好的散热条件。那么额定电流的能力还会上升。
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Q碳化硅电子熔丝除了400V 800V 电动汽车电池系统，还有哪些应用场景？
A很多需要快速响应 长寿命的场合都可以
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Q碳化硅电子熔丝是只适用于直流应用吗？支持交流吗？
A目前E-FUSE的设计只支持直流应用，交流应用需要进行对管的拓扑客户可以根据目前演示板的设计思路进行交流应用的开发。
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Q碳化硅电子熔丝的自复位，是需要外驱动信号来实现，还是说断开后过了一定的时间就自动复位？
A是自动复位的，可以通过LIN通讯设置TCC_Sample_Time.
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Q电子熔丝用作高压辅助熔丝来保护系统中尺寸更大的熔丝的原理是什么？
AE-FUSE内部有电流检测单元，当出现过流或者故障大电流的时候可以及时关断把最终的故障电流幅度限制在相对非常低的水平，故可以保护比它更大规格的熔丝。我们建议在使用了E-FSUE之后可以拿掉传统的熔丝。
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Q在电气化趋势下，如何评估和比较不同供应商的电子熔丝解决方案？
A主要有响应速度 是否无明火危险 寿命是否足够长等因素
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Q电子熔丝解决方案是如何同时替代机电继电器和熔丝的？
A电子熔丝内置了SiC MOSEFT，可以进行电路的开通和断开操作。同时因为其内部电流检测单元可以对过载和故障大电流进行及时的干预，把电流幅度限制在非常低的水平(相比传统的熔丝和接触器而言)故可以同时取代这两种器件。
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Q4. 固态断路器（电子熔丝）是否有供给主控等检测其状态的接口（通信或者简单检测）
A有的，通过LIN铜须和上位机进行通讯。