美国国家仪器公司（NI）

软件设计的仪器（Software Designed Instruments, SDI）诞生于2012年，是由NI发布的业界第一款矢量信号收发仪（VST），为PXI平台和自动化测试应用提供了新的可能。在2014年，软件设计的仪器（SDI）更是不断丰富，拓展了更宽的应用领域，此次讲座中，您将了解SDI中的核心部件——可编程FPGA如何给自动化测试带来了更高的性能和灵活性，工程师们如何使用NI PXI软件设计的仪器结合LabVIEW重新定义仪器，更快地创新。

当今的测试工程师正面临着严峻的挑战，他们需要应对日益严苛的测试需求和包括上市时间、测试成本在内的商业约束。而设备的复杂度却在不断提高，工程师必须在寻找更低成本的解决方案的同时，提升测试系统的速度、带宽、吞吐量和灵活性。这对测试系统的搭建提出了更高的要求。而借助软件定义的测试方法和灵活的硬件平台，NI已经成功帮助工业界的35000家公司构建了更高效率的自动化测控系统。通过本次讲座，您将了解作为PXI平台的领导者，NI如何通过不断兼容最新的处理器技术、总线技术、FPGA技术、AD/DA转换器技术，来帮助工程师构建高效的测控系统，轻松应对自动化测控领域的挑战，助力工程创新。

不论是汽车、工程机械还是轨道交通行业，市场上激烈的竞争迫使工程师们只有使用更加高效、可靠的解决方案，才能有足够的灵活性，不断满足未来需求。如今，很多整车厂商与供应商都采用美国国家仪器平台实现各种汽车电子领域的测控应用。从快速原型设计到产线自动化测试，在汽车电子产品研发生产的整个过程中，NI 通过为控制、仿真、设计和测试提供统一而通用平台，有效节省了各个阶段耗费的时间和成本。本次演讲将介绍NI及业内合作伙伴在上述领域的最新进展，内容涵盖了电动汽车动力系统设计仿真、汽车燃油经济性优化与测试、ISO26262功能安全性测试验证、台架实时测试与控制、车载多媒体与辅助驾驶系统产品测试等领域。

如今，嵌入式系统已经被广泛应用于工业领域。由于嵌入式系统的需求日益多样化以及传统嵌入式系统开发工具链的分散化、复杂化，这使得搭建一个集高级测量和控制于一体的嵌入式系统面临很大的困难。 为了应对这个挑战，NI 为工程师和科学家提供了图形化的系统设计工具，用于开发下一代控制与监测系统。利用NI 可重配置 I/O (RIO) 硬件(采用了具有高性能浮点处理器、可重配置FPGA以及模块化I/O的RIO架构) 和NI LabVIEW 图形化系统设计软件，小型设计团队即可快速构建系统原型，更快地部署嵌入式控制与监测系统。 在本次研讨会中，NI工程师将为您介绍如何利用图形化系统设计方法加速定制嵌入式测控系统。此外，研讨会还将给您带来NI嵌入式平台在各领的域典型应用，如能源电力、机器状态监测、结构健康监测、机器视觉、运动控制等。

自动化测试的速度是自动化测试系统的关键指标。对于研发阶段，参数的验证速度直接决定了产品投放市场的时间，对于生产阶段，自动化测试速度则决定了产量。以PXI为核心构建的自动化测试系统借助于最新技术和总线可以实现极高的数据吞吐量，大大减少了测试时间。在本场讲座中，我们将结合自动化测试领域的最新案例为您揭示如何使用最新技术进行高速、高吞吐量的自动化测试。