本次研讨会将为大家介绍运算放大器噪声以及 ADI 典型低噪声放大器产品。

很多情况下, 当测试设备进入到安装阶段，才会意识到热管理问题，这时往往为时已晚，重新设计往往会浪费大量时间。如果集成到机柜中的设备要求不同方向的风道，还必须考虑不同方向气流交叉下的热管理。在这次研讨会上，我们的专家将与您一起讨论机箱设计过程中的散热管理，在将电路板或测试设备集成到机架中时应考虑哪些散热方面的问题, 以及在配置测试机架时在冷却方面的常见问题及如何解决这些问题。

高精度数字多用表在20世纪80年代中后期开始应用于电子测量领域，成为直流和低频交流电学计量的首选测量工具。具有多种功能精度高且易于实现系统自动化，可以轻松取代检零器等，但是其直流输入放大器并没有完全匹配检零器特性所需的特定设计。在某些关键方面，高精度数字多用表具有一定的缺陷，其中一个关键问题是仪器的输入偏置电流。输入偏置电流来源于高精度数字多用表中的前级放大器电路，其数值高达50pA。而最新型的福禄克高精度数字多用表8588A的偏置电流明显更小，最大仅为20pA。最初测试时，该偏置电流还可以被调整几乎接近于0pA 。这实际上消除了输入偏置电流导致的偏移电压问题。并且，随着时间的变化，偏置电流的变化很小，因此在很长一段时间内都将保持在该水平，从而确保了福禄克8588A 型高精度数字多用表是替代模拟检零器的合适产品。
揭秘新型8.5位数字多用表采用的新技术；图文阐述性能指标；视频展示全新应用。

随着新能源汽车、光伏、储能、5G通信等行业应用的兴起，对功率半导体器件提出了节能、紧凑、高效的新要求，以GaN和SiC为代表的第三代功率半导体因其优异的性能，被广泛应用于这些热点行业之中。是德科技针对功率半导体器件测试，新近推出了高性能动态参数测量方案，结合早已被业界广泛接受及应用的静态参数测试，其完善的测试方案能够完整覆盖从SiC到GaN，从分立器件到模组，全面助力客户解决高速开关、高压、高流、快沿等测试难点。本研讨会将针对这些难点的测试方法和技术逐一详细讲解。
此次，是德科技邀请是德科技系统集成商和创联合科技，一并为用户带来功率器件晶圆级测试完整解决方案。以GaN和SiC为代表的第三代功率半导体其高耐压，低导通电阻，开关速度快的特点为晶圆级测量带来了更高挑战，本次和创团队会介绍功率器件晶圆级参数测量的相关内容，并针对晶圆级测试中常见的高压打火，器件震荡等问题提供可参考的解决方案。
现场是德科技以及和创联合科技的测试专家都会在现场为用户解答技术问题。欢迎踊跃参与。

在半导体测试设备中，开关零件的性能是决定测试设备的测试效率重要因素之一。基于半导体自动化设备测试行业的发展需求, 欧姆龙专注于解决各种信号开关部件使用中的应用客户课题，现已拥有多种开关方案。

我们会在本次研讨会介绍欧姆龙开关部件的适用场景，如何通过选择合适的开关部件来解决设备的测试痛点，达到高性能。同时，您将了解到：
1.针对测试行业电子开关应用要求的低漏电流课题
2.欧姆龙的全新模组方案

PCIE 3.0相对于它的前一代PCIE 2.0的最主要的一个区别是速率由5GT/s提升到了8GT/s，编码方式由8B/10B 变成了128B/130B，接收机测试规定为PCIE 3.0规范要求的必测项目。特别的是PCIE 3.0增加了动态均衡的概念。这些变化使得PCIE 3.0的测试变得更具挑战：发射机测试常规的项目如眼图抖动等测试外，还需要进行11级TxEQ Preset测试；新增加的接收机测试时如何让被测件顺利的进入Loopback对测试设备也是一个挑战；更有挑战的一个测试项目是PCIE 3.0特有的动态均衡测试，目前只有Teledyne LeCroy的测试方案能够实现这项测试。本次研讨会就将为您详细阐述Tlededyne LeCroy针对PCIE 3.0的全面的自动化测试解决方案。

移动通信和云计算的发展驱动着更高数据吞吐量的需求，PCIE Gen3 、40/100 G base-R多通道串行架构的出现都是为了满足这种需求，但是随着数据速率的提高和更多通道的同时工作，必须面对由此带来的更严重的抖动和串扰问题，必须对多通道数据的眼图、抖动、串扰做深入细致的分析。 当前这一领域的测试挑战有如下三个方面： 1、 测试仪器能否提供足够高的带宽以满足多通道高速信号接口的测试需求； 2、 测试仪器的高带宽通道数量是否足够； 3、 是否有强大的串行数据分析软件协助对高速信号的分析和调试； 针对这些挑战，全球串行信号分析解决方案领导厂商Teledyne LeCroy公司，在硬件上提供带宽高达65GHz的实时数字示波器，而且，力科能够提供全世界最高密度的高带宽通道，65GHz的带宽通道数能够达到40个，36GHz的带宽通道数能够达到80个。同时还推出了强大的多通道串行数据眼图、抖动、串扰及噪声分析软件SDAIII，能够实现4个通道加1个参考通道的眼图抖动的同时测量，同时还可以针对噪声进行分解分析。本次研讨会就将为您详细介绍力科的SDAIII专业串行数据分析软件的特点及怎样帮助你分析和解决高速设计问题。

通过本次研讨会，您不仅可以了解到力科12bit ADC示波器HDO系列为何能够达到更高的精度的原理以及其能够达到多高的精度，同时您也将了解到12位ADC的示波器在各种领域的应用。

自动化测试的速度是自动化测试系统的关键指标。对于研发阶段，参数的验证速度直接决定了产品投放市场的时间，对于生产阶段，自动化测试速度则决定了产量。以PXI为核心构建的自动化测试系统借助于最新技术和总线可以实现极高的数据吞吐量，大大减少了测试时间。在本场讲座中，我们将结合自动化测试领域的最新案例为您揭示如何使用最新技术进行高速、高吞吐量的自动化测试。