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基于T型结构MOS FET 模组的最新半导体测试解决方案
时间：
2021-03-09 10:00:00
（今天距离会议开始还有4天）
主讲：严伟
简介：
针对传统半导体测试中存在的测试板设计周期长，测试板空间不能满足多功能测试的高集成度要求，以及后期维护成本高等难题，欧姆龙提供小封装，超低漏电流，免维护的T型结构MOS FET 继电器模组，助您解决上述问题。
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