首页 > 按厂商点播 > 罗德与施瓦茨公司

"罗德与施瓦茨公司 "的所有研讨会

  • 主 题:应对电源完整性测试挑战 演讲人:刘永刚 时 间:2017-04-12 10:00:00 简 介: 随着高速电路、高比特ADC以及精密运放电路的应用和发展,芯片及器件的工作电压越来越低,系统对板上电源噪声/纹波要求变得更加苛刻,整个板上电源分布网络(PDN)的复杂度也越来越高。系统设计不仅要求PDN在低频段(如20MHz一下)具有较好的纹波和噪声特性,同时要求对高达GHz的特定频段内的电源噪声进行有效的测试和控制。电源完整性测试成为当前工程师进行电子设计的重要挑战,其直接决定了产品的性能,如整机可靠性,信噪比与误码率,以及EMI/EMC等重要指标。本次研讨会将针对电源完整性测试中的相关挑战,介绍罗德与施瓦茨公司最新电源完整性测试方案如何助力工程师轻松应对和完成相关测试和分析。
  • 主 题:示波器的艺术及示波器的测试测量艺术系列之二 --- 如何利用现代示波器实现快速测量? 演讲人:李星 时 间:2014-11-25 10:00:00 简 介: 快速测量是现代示波器艺术的一个方面,代表了示波器厂商的研发能力; 快速测量也反应了工程师对示波器的精熟程度,代表了一种使用工具的能力。了解和掌握示波器的快速测量的一些功能细节和使用技巧将可以极大提升我们的研发测试效率。本次研讨会我们将和大家交流这个看似简单但值得关注的话题。
  • 主 题:嵌入式设计调试技术与高级时频域联合分析 演讲人:焦宝春 时 间:2013-12-19 10:00:00 简 介: 当今嵌入式设计的工作频率越来越高,大量与射频相关的技术广泛使用。随着系统时钟频率的升高和高速总线接口的使用,突发性的EMI问题也日趋严重。设计人员常常面对必须将时域信号与射频信号综合分析的难题。传统的示波器和频谱分析设备不能有效地分析这些问题的根本原因,发现产生故障的根源。来自罗德与施瓦茨公司最新的示波器技术,具有强大的模拟、数字和总线信号的分析功能。更为独特的是集成了数字下变频技术、重叠FFT算法,配合高精度的ADC和低底噪的模拟前端,可以实现实时频谱分析功能。结合模拟通道和数字通道的时域联合触发,R&S示波器可以提供独特的故障调试手段,成为时域和频域联合分析的有力工具。

厂 商

  • 21IC公益研讨会
  • Actel & Future
  • Actel Corporation
  • Altera
  • Analog Devices, Inc
  • Cypress Semiconductor
  • eASIC Corporation
  • Fairchild
  • Infineone
  • keithley
  • MACOM
  • maxim
  • Microsemi Corporation
  • National Semiconductor
  • Nexperia
  • NXP
  • NXP & ARROW
  • RIGOL
  • ROHM
  • Silicon Labs
  • Spansion
  • TDK-Lambda
  • tektronix
  • Teledyne LeCroy Inc
  • Texas Instruments
  • TI & ARROW
  • Vicor
  • WPG
  • Xilinx
  • YOSUN
  • 上海东软载波
  • 凌力尔特公司
  • 安森美半导体
  • 富士通微电子(上海)有限公司
  • 尼吉康
  • 往期会议
  • 恩智浦半导体
  • 意法半导体
  • 新晔电子
  • 罗德与施瓦茨公司
  • 美国国家仪器公司(NI)
  • 艾睿合众
  • 艾睿电子