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"keithley"的所有研讨会

  • 主 题:高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱 演讲人:张卫华 时 间:2012-08-22 10:00:00 简 介: 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域,但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。
  • 主 题:超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱 演讲人:Katie Wright 时 间:2012-06-28 10:00:00 简 介: 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果
  • 主 题:非易失存储器-特性分析与测量技术 演讲人:Nicky Wang 时 间:2012-05-23 10:00:00 简 介: 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器(NVM)的替代技术,例如正在进行的相变存储器(PCM/PRAM)、铁电存储器(FeRAM)、磁阻存储器(MRAM)和阻性存储器(ReRAM)。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多,但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析,例如瞬态开关性能、耐力,并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLASH、PRAM、ReRAM和FeRAM等各种NVM技术的常用特性分析和测量技术。本期研讨会还将介绍标准测量仪器的改进——用单机提供脉冲源和测量,即同步测量电流和电压同时向存储器件或材料施加多个脉冲波形。
  • 主 题:什么是源测量单元(SMU)仪器,怎样为您的应用选择合适的源测量单元(SMU)仪器 ? 演讲人:曹刚 时 间:2012-04-24 10:00:00 简 介: 源测量单元(SMU)可以提高生产效率,完成更全面的特性测试,并提高测试系统整体性能。然而,为了真正优化测试,在为应用选择合适的源测量单元(SMU)时,必须综合考虑“说明书中的性能指标”。此次在线研讨会将介绍源测量单元(SMU)的工作原理,说明选择源测量单元(SMU)仪器时需要考虑的关键因素及性能,以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利最新发布的面向高功率高电压测试的2657A型数字源表。2657A为吉时利2600A系列高速、精密源测量单元数字源表系列产品增加了高电压功能。此系列仪器能帮助吉时利客户分析范围更宽的功率半导体器件和材料。 此次在线研讨会中展示的材料对于从事半导体元器件、材料和相关技术进行特性分析和测试的工程师、研究人员、教育工作者以及学生具有重要价值,需要对器件或者材料的电流/电压 (I /V)特性进行验证和/或更好的了解其电流/电压 (I /V)特性。典型器件和技术包括硅、功率/能源应用像高亮度LED和太阳能电池中涉及的化合物半导体(如SiC、GaN)、电子元器件、纳米技术以及一些新兴技术。

厂 商

  • 21IC公益研讨会
  • Actel & Future
  • Actel Corporation
  • Altera
  • Analog Devices, Inc
  • Cypress Semiconductor
  • eASIC Corporation
  • Fairchild
  • Infineone
  • keithley
  • MACOM
  • maxim
  • Microsemi Corporation
  • National Semiconductor
  • Nexperia
  • NXP
  • NXP & ARROW
  • RIGOL
  • ROHM
  • Silicon Labs
  • Spansion
  • TDK-Lambda
  • tektronix
  • Teledyne LeCroy Inc
  • Texas Instruments
  • TI & ARROW
  • Vicor
  • WPG
  • Xilinx
  • YOSUN
  • 上海东软载波
  • 凌力尔特公司
  • 安森美半导体
  • 富士通微电子(上海)有限公司
  • 尼吉康
  • 往期会议
  • 恩智浦半导体
  • 意法半导体
  • 新晔电子
  • 罗德与施瓦茨公司
  • 美国国家仪器公司(NI)
  • 艾睿合众
  • 艾睿电子