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与"测试测量"相关的所有研讨会

  • 主 题:PCIE 3.0发射机接收机及动态均衡测试全套解决方案介绍 演讲人:胡为东 时 间:2013-05-22 10:00:00 简 介: PCIE 3.0相对于它的前一代PCIE 2.0的最主要的一个区别是速率由5GT/s提升到了8GT/s,编码方式由8B/10B 变成了128B/130B,接收机测试规定为PCIE 3.0规范要求的必测项目。特别的是PCIE 3.0增加了动态均衡的概念。这些变化使得PCIE 3.0的测试变得更具挑战:发射机测试常规的项目如眼图抖动等测试外,还需要进行11级TxEQ Preset测试;新增加的接收机测试时如何让被测件顺利的进入Loopback对测试设备也是一个挑战;更有挑战的一个测试项目是PCIE 3.0特有的动态均衡测试,目前只有Teledyne LeCroy的测试方案能够实现这项测试。本次研讨会就将为您详细阐述Tlededyne LeCroy针对PCIE 3.0的全面的自动化测试解决方案。
  • 主 题:力科多通道高速串行信号分析解决方案SDAIII 演讲人:李发存 时 间:2013-01-31 10:00:00 简 介: 移动通信和云计算的发展驱动着更高数据吞吐量的需求,PCIE Gen3 、40/100 G base-R多通道串行架构的出现都是为了满足这种需求,但是随着数据速率的提高和更多通道的同时工作,必须面对由此带来的更严重的抖动和串扰问题,必须对多通道数据的眼图、抖动、串扰做深入细致的分析。 当前这一领域的测试挑战有如下三个方面: 1、 测试仪器能否提供足够高的带宽以满足多通道高速信号接口的测试需求; 2、 测试仪器的高带宽通道数量是否足够; 3、 是否有强大的串行数据分析软件协助对高速信号的分析和调试; 针对这些挑战,全球串行信号分析解决方案领导厂商Teledyne LeCroy公司,在硬件上提供带宽高达65GHz的实时数字示波器,而且,力科能够提供全世界最高密度的高带宽通道,65GHz的带宽通道数能够达到40个,36GHz的带宽通道数能够达到80个。同时还推出了强大的多通道串行数据眼图、抖动、串扰及噪声分析软件SDAIII,能够实现4个通道加1个参考通道的眼图抖动的同时测量,同时还可以针对噪声进行分解分析。本次研讨会就将为您详细介绍力科的SDAIII专业串行数据分析软件的特点及怎样帮助你分析和解决高速设计问题。
  • 主 题:力科新一代12bit高精度示波器HDO及其在弱小信号测量中的应用 演讲人:马亦飞 时 间:2012-12-20 10:00:00 简 介: 通过本次研讨会,您不仅可以了解到力科12bit ADC示波器HDO系列为何能够达到更高的精度的原理以及其能够达到多高的精度,同时您也将了解到12位ADC的示波器在各种领域的应用。
  • 主 题:高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱 演讲人:张卫华 时 间:2012-08-22 10:00:00 简 介: 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域,但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。
  • 主 题:超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱 演讲人:Katie Wright 时 间:2012-06-28 10:00:00 简 介: 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果

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